Phasics 波前探测器

产品简介

法国PHASICS 的波前探测器，基于其波前测量专利——四波横向剪切干涉技术（4-Wave Lateral Shearing Interferometry）。作为夏克-哈特曼技术的改进型，这种独特的专利技术将超高分辨率和超大动态范围完美结合在一起。任何应用下，其都能实现全面、简便、快速的测量。

产品中心

产品特点

Product Features

法国 Phasics 公司利用革新的技术研发的 SID4 波前探测器，具有如下独特技术优势：

◆高分辨率的相位图，最高分辨率可达400ｘ300。

◆具有直接测量高发散光束的能力

◆消色差，匹配CCD整个探测范围，用于不同波长光而无需额外校准。

应用方向：

激光束质量分析
自适应光学
光学元件表面测量
生物成像
热成像，等离子体表面物理

全国服务热线 021-3463-5258

产品参数

Product Parameter

型号	SID4-UV	SID4	SID4 V > 10-6 mbar	SID4-HR	SID4-NIR	SID4-SWIR	SID4-SWIR-HR	SID4-eSWIR	SID4-LWIR	SID4-DWIR	SID4 sC8 sCMOS
孔径	7.4 × 7.4 mm²	5.02 × 3.75 mm²	4.73 × 3.55 mm2	9.98 × 8.64 mm²	3.6 × 4.8 mm²	9.6 × 7.68 mm²	9.6 × 7.68 mm²	9.6 × 7.68 mm²	16 × 12 mm²	10.88 × 8.16 mm²	16.6 x 14.0 mm2
空间分辨率	29.6 µm	27.6 µm	29.6 µm	24 µm	29.6 µm	120 µm	60 µm	60 µm	100 µm	68 µm	19.5 µm
采样点/测量点	250 × 250	182 × 136	160 × 120	416 × 360	160 × 120	80 × 64	160 × 128	80 × 64	160× 120	160 × 120	852 × 720
波长	250 ~ 400 nm	400 nm ~ 1100 nm	400 nm ~ 1100 nm	400 nm ~ 1100 nm	1.5 ~ 1.6 µm	0.9 ~ 1.7 µm	0.9 ~ 1.7 µm	1.0-2.35 µm	8 ~ 14 µm	3 ~ 5 µm , 8 ~ 14 µm	450 nm ~ 1000 nm
动态范围	> 200 µm	> 100 µm	> 100 µm	> 500 µm	> 100 µm	~ 100 µm	~ 100 µm	~ 120 µm	~ 100 µm	N/A	N/A
精度	10 nm RMS	10 nm RMS	15 nm RMS	20 nm RMS	15 nm RMS	15 nm RMS	15 nm RMS	40 nm RMS	75 nm RMS	75 nm RMS	N/A
灵敏度	2 nm RMS @ 250 nm, 2 µJ/cm²	< 2 nm RMS	< 2 nm RMS	< 2 nm RMS	< 11 nm RMS	2 nm RMS	2 nm RMS	6 nm RMS	25 nm RMS	25 nm RMS	< 1 nm RMS
采样频率	>30 fps	> 60 fps	60 fps	> 10 fps	>60 fps	120 fps	120 fps	N/A	24 fps	50 fps	40 fps
处理频率	> 2 Hz (高分辨率）	10 Hz (高分辨率)	7 Hz (高分辨率)	3 Hz (高分辨率)	10 Hz	7 Hz (高分辨率）	7 Hz (高分辨率）	>10 Hz (高分辨率）	10 Hz (高分辨率）	10 Hz	15 Hz
尺寸	53 × 63 × 83 mm	62 × 64 × 94 mm	54 × 46 × 75.3 mm	80 × 77.5 × 86.4 mm	44 × 33 × 57.5 mm	100 × 55 × 63 mm	100 × 55 × 63 mm	90 × 115 × 120 mm	96 × 110 × 90 mm	85 × 118 × 193 mm	140 × 82 × 80 mm