少子寿命测量仪 BCT-400测试硅锭

少子寿命测量仪 BCT-400测试硅锭

  • 所属类别: 光伏类产品» 少子寿命测试仪
  • 所属品牌:美国/Sinton
  • 应用: 光伏
  • 关键词: 少子寿命测量仪 BCT-400测试硅锭
产品介绍

少子寿命测量仪BCT-400

BCT-400测量系统不需要做表面钝化就能直接测量单晶和多晶硅(锭或块)的少子寿命.

因为少子寿命作为衡量生长和缺陷含量的的最敏感的技术参数,这个工具直接获得长硅的质量参数。

作为最易于使用的测量工具--BLS,只需要有直径150mm大小的平面。如果只是测量平面样品的话,请选择BCT-400。


产品简述:

1.用途(高频光电导)

用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量,除需要有一个测量平面外,对样块

体形无严格要求,可测块状和片状单晶寿命。寿命测量可灵敏地反映单晶体

内重金属杂质污染及缺陷存在的情况,是单晶质量的重要检测项目。

2.设备组成

2.1光脉冲发生装置

重复频率>25次/s 脉宽>60μs 光脉冲关断时间<1μs


红外光源波长:1.06~1.09μm(测量硅单晶) 脉冲电流:5A~20A

如测量锗单晶寿命需配置适当波长的光源

 

 


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