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RESmap电阻率测试仪
特征
电阻率的非接触式测量和成像
高频涡流传感原理与集成红外温度传感器可校正样品的温度变化
信号灵敏度
基于线圈频率读数(正在申请专利)的高信号灵敏度,可实现准确可靠的电阻率测量,并具有高再现性和可重复性
测量时间
测量时间 < 3 s,测量之间时间 < 1 s
测量速度
200 mm 晶圆/晶锭 < 30 s,9个点
多点测量及测绘显示
最高9999个点
材料外形尺寸
平坦或略微弯曲的晶圆、晶锭、锭板、毛坯和薄膜
X-Y位置分辨率
≥ 0.1mm
边缘扣除
5 mm
可靠性
模块化、紧凑的台式仪器设计,可靠性高,正常运行时间 > 99%
电阻率测量的重复性
≤ 0.15%,基于使用ANOVA Gage R&R方法对材料系统分析(MSA)
用户友好且先进的操作软件
+电阻率测量配方 +分析功能包;统计、方差分析、温度校正函数和库
+导出/导入功能和原始数据访问 +远程访问;基于互联网的系统允许在世界任何地
+多级用户账户管理方进行远程操作和技术支持 +所有执行的测量概览
+绘图选项(线、十字、星、完整地图、地形、用户定义图案)
更多技术规格和配置选项
为自动化流程做准备 | 可用于不同的平台 |
测量方法符合 | SEMI MF673标准 |
数据及数据有效性检查 | 使用NIST标准 |
校准精度 | ±1% |
集成红外温度传感器(±0.1°) | 允许报告标准温度下的电阻率,(与样品的实际温度不同) |
样品厚度校准 | 对于高频信号穿透深度大于穿透深度的样品 |
电力要求 | 100-250 VAC, 5 A |
尺寸 | 465 ´550 ´600 mm |
软件控制 | 配备Window10或最新版本的标准PC,2个以太网端口 |
自从J. B. Pentry教授在1996年开始提出超材料结构的负折射原理,Roger M. Walser教授1999年正式提出了超材料metamaterial的名词。现如今,超材料已经从*初材料性研究,慢慢的过度到器件方向,而由于微纳工艺的发展,亚微米乃至纳米级周期性结构得以实现,超材料在可...
查看全文在5G通信、量子计算、生物光子学等前沿领域飞速发展的今天,光子技术正成为下一代信息革命的核心。作为国内领先的光电子解决方案提供商,上海瞬渺光电技术有限公司携手以色列企业Star Photonics,正式引进其硅光集成芯片设计软件,为中国科技企业解锁光子芯片设计的...
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