法国Phasics--高分辨率波前分析仪/波前传感器/剪切干涉仪

法国Phasics--高分辨率波前分析仪/波前传感器/剪切干涉仪

  • 所属类别: 光学仪器» 波前分析仪
  • 所属品牌:PHASICS
  • 应用: 信息光学
  • 关键词: 法国Phasics高分辨率波前传感器,波前分析仪,波前探测器 ,四波横向剪切干涉技术
产品介绍

法国Phasics--高分辨率波前分析仪/波前传感器/剪切干涉仪

法国PHASICS公司自主研发的波前传感器、波前分析仪、波前探测器是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析仪相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析,眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案!

   

法国PHASICS公司自主研发的波前传感器、波前分析仪、波前探测器是基于四波横向剪切干涉技术,对哈特曼掩模技术进行了大的升级、改进。PHASICS波前传感器将400X300的超高分辨率和500um的超大动态范围完美结合在了一起。可以满足不同的客户的应用需求,可对激光光束进行光强、位相、PSF(点扩散函数)、MTF(调制传递函数)、OTF(光学传递函数)、波前像差、M²等进行实时、简便、快速的测量。

PHASICS波前传感器、波前分析仪、波前探测器--技术优势:

高分辨率的相位图,最高分辨率可达400x300。

具有直接测量高发散光束的能力

消色差,匹配CCD整个探测范围,用于不同波长光而无需额外校准。

PHASICS波前传感器、波前分析仪、波前探测器--应用方向:

激光束质量分析

自适应光学

光学元件表面测量

生物成像

热成像,等离子体表面物理

法国PHASICS波前传感器、波前分析仪、波前探测器主要型号相关参数: 



  SID4     UV HR

SID4 Visible

SID4 Visible HR

  SID4    NIR

SID4 SWIR

  SID4      IR MCT

  SID4     DWIR

SID4 LWIR

波长

 190 – 400 nm

400 – 1100   nm

400 – 1100 nm

1,5 – 1,6   µm

0,4 – 1,7   µm

1,2 – 5,5   µm

3 – 5 µm   and
  8 – 14 µm

8 – 14 µm

孔径

8.0 × 8.0 mm²

3.6 × 4.8 mm²

8.9 × 11.8 mm²

3.6 × 4.8 mm²

9.6 × 7.68 mm²

9.60 x   7.68 mm²

10.08 ×8.16mm²

16 x 12   mm²

空间分辨率

32 µm

29,6 µm

29,6 µm

29,6 µm

60 µm

60 µm

68 µm

100 µm

采样点

250 x 250

160 x 120

300 x 400

160 x 120

160 x 128

160 x 128

160 x 120

160 x 120

精度 (绝对精度)

10 nm RMS

10 nm RMS

15 nm RMS

15 nm RMS

15 nm RMS

75 nm RMS

75 nm RMS

75 nm RMS

分辨率(灵敏度

0,5 nm RMS

< 2 nm   RMS

< 2 nm   RMS

< 11 nm   RMS

< 2 nm   RMS

< 3 nm   RMS

25 nm RMS

25 nm RMS

动态范围

> 200   µm

> 100   µm

> 500   µm

> 100   µm

> 100   µm

300 µm

> 100   µm

> 100   µm

采样频率

30 fps

> 100 fps

> 30 fps

60 fps

120 fps

140 fps

> 50   fps

40 fps

 

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